使用中如何判斷納米位移臺(tái)是否出現(xiàn)誤差？
判斷納米位移臺(tái)是否出現(xiàn)誤差，需要從系統(tǒng)反饋、運(yùn)動(dòng)表現(xiàn)和測(cè)量結(jié)果等多個(gè)維度綜合分析。以下是常用的判斷方法和依據(jù)：
一、從控制系統(tǒng)或反饋信號(hào)判斷
閉環(huán)控制反饋值與設(shè)定值不一致
如果位移臺(tái)為閉環(huán)控制（如帶有光柵尺或電容傳感器），應(yīng)實(shí)時(shí)檢查反饋值是否與設(shè)定值一致。
偏差大、反復(fù)出現(xiàn)或難以收斂，可能存在誤差或...
納米位移臺(tái)的“零位”如何設(shè)置？
納米位移臺(tái)的“零位”設(shè)置，是指確定平臺(tái)的參考原點(diǎn)，為后續(xù)精確定位和重復(fù)運(yùn)動(dòng)提供統(tǒng)一的起點(diǎn)。不同控制系統(tǒng)和傳感器配置會(huì)略有差異，但基本原則大致如下：
一、常見“零位”設(shè)置方法
1. 機(jī)械限位初始化法（適用于帶限位開關(guān)的系統(tǒng)）
平臺(tái)啟動(dòng)后先運(yùn)動(dòng)至某一端的機(jī)械限位（通常是最小端），以此點(diǎn)為參考原點(diǎn)。
控制器將該點(diǎn)...
納米位移臺(tái)如何優(yōu)化掃描路徑以減少振動(dòng)？
在使用納米位移臺(tái)進(jìn)行掃描時(shí)，優(yōu)化掃描路徑是減少系統(tǒng)振動(dòng)、提升定位精度和圖像質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。以下是幾種常用且有效的優(yōu)化路徑設(shè)計(jì)方法：
首先，避免使用帶有急劇加速度變化的波形，例如傳統(tǒng)鋸齒波或方波路徑，這類軌跡在方向切換處會(huì)造成系統(tǒng)沖擊，引起激發(fā)共振和機(jī)械抖動(dòng)。建議改為采用平滑的軌跡設(shè)計(jì)，例如正弦波、...
使用納米位移臺(tái)進(jìn)行三維定位時(shí)應(yīng)注意什么？
使用納米位移臺(tái)進(jìn)行三維定位時(shí)，精度、穩(wěn)定性和操作策略尤為重要。以下是幾個(gè)關(guān)鍵注意事項(xiàng)：
1. 坐標(biāo)系一致性與校準(zhǔn)：
確保三維運(yùn)動(dòng)的 X、Y、Z 軸定義清晰，坐標(biāo)系與樣品和觀測(cè)設(shè)備（如顯微鏡或探測(cè)器）對(duì)齊。在開始三維定位前，應(yīng)進(jìn)行原點(diǎn)設(shè)置和零位校準(zhǔn)，以防坐標(biāo)偏移引起位置誤判。
2. 軸間干擾控制：
某些結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)中...
納米位移臺(tái)能否進(jìn)行高速掃描？
納米位移臺(tái)可以進(jìn)行高速掃描，但能否實(shí)現(xiàn)以及掃描性能好壞，取決于多個(gè)關(guān)鍵因素。下面從原理、影響因素、適用場(chǎng)景和優(yōu)化建議幾個(gè)方面進(jìn)行詳細(xì)說明：
納米位移臺(tái)高速掃描的可行性
納米位移臺(tái)（Nanopositioning Stage）特別是壓電驅(qū)動(dòng)型（piezo-based）的，具有響應(yīng)速度快、分辨率高、慣量小等優(yōu)勢(shì)，理論上適合高速掃描，...
使用納米位移臺(tái)時(shí)如何避免共振問題？
在使用納米位移臺(tái)（nanopositioning stage）過程中，避免共振問題是確保高精度和穩(wěn)定性操作的關(guān)鍵。共振會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)振動(dòng)放大、定位誤差增大，甚至損傷精密部件。以下是避免或抑制共振的常見策略：
一、結(jié)構(gòu)與安裝設(shè)計(jì)方面
選擇高剛性平臺(tái)或基座
使用具有良好阻尼和高固有頻率的安裝平臺(tái)（如花崗巖、厚金屬塊）能提高系統(tǒng)...